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XGP-6202分光計的調(diào)整與使用實(shí)驗(yàn)
分光儀，亦可稱為測角儀，是一種常見的光學(xué)儀器，主要由平行光管、載物平臺和望遠(yuǎn)鏡三個核心部件構(gòu)成。作為一種用于測量光線偏轉(zhuǎn)角度的精密光學(xué)設(shè)備，分光儀能夠測定多種物理量，包括光波的波長、棱鏡的角度、材料的折射率、色散率以及光柵常數(shù)等。這些物理量的測定均通過角度測量來實(shí)現(xiàn)，因此分光儀在光學(xué)實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用價值。
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更新日期
2025-04-30
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YEL-3084880通用數(shù)據(jù)接口
880通用接口是一款集信號發(fā)生、恒壓輸出、模擬/數(shù)字信號采集于一體的多功能實(shí)驗(yàn)設(shè)備，專為電子工程、工業(yè)檢測及教學(xué)研發(fā)設(shè)計。內(nèi)置1路16W信號發(fā)生器（正弦波/方波/三角波）、1路可編程恒壓源（0-15V）、4路模擬信號采集接口（±20V輸入，1MHz高速采樣）及4路數(shù)字接口（兼容YSC-42系列傳感器），支持手動與軟件雙模式操作，滿足復(fù)雜信號生成、精密電壓調(diào)節(jié)及多通道數(shù)據(jù)采集需求。
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更新日期
2025-04-25
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廠商性質(zhì)
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YGP-6249電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)裝置
電子荷質(zhì)比e/m是一個常用的物理常數(shù)，它的定義是電子的電荷量與其質(zhì)量的比值，經(jīng)現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的測定電子荷質(zhì)比的標(biāo)準(zhǔn)值是：1.759×10^11C/kg。當(dāng)然測量電子荷質(zhì)比的方法在物理實(shí)驗(yàn)中有許多種，本實(shí)驗(yàn)儀是以當(dāng)年英國物理學(xué)家湯姆遜的思路，利用電子束在磁場中運(yùn)動軌跡發(fā)生偏轉(zhuǎn)的方法來測量。電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)裝置的中心器件是三維立體的威爾尼氏管，通過它可以生動形象地顯示出電子束的運(yùn)行軌跡，當(dāng)將威氏管放于亥姆
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更新日期
2025-04-16
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XTR-6314邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)
1881年，為深入研究“以太”現(xiàn)象，美國物理學(xué)家阿爾伯特·邁克爾遜與愛德華·莫雷攜手合作，成功研制出基于分振幅法產(chǎn)生雙光束干涉的邁克爾遜干涉儀。該儀器在光譜精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究以及利用光波進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)米尺的標(biāo)定等實(shí)驗(yàn)中發(fā)揮了至關(guān)重要的作用。本實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)現(xiàn)了邁克爾遜干涉儀的設(shè)計理念和光路原理，涵蓋了相干性、分振幅干涉、等傾干涉、等厚干涉、定域干涉、非定域干涉、點(diǎn)光源、擴(kuò)展光源、白光干涉、干涉可見度、轉(zhuǎn)換法、累
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更新日期
2025-04-16
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2025-04-15
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18067966086
2024-07-09
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