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XGP-6202分光計的調(diào)整與使用實驗
分光儀,亦可稱為測角儀,是一種常見的光學儀器,主要由平行光管、載物平臺和望遠鏡三個核心部件構(gòu)成。作為一種用于測量光線偏轉(zhuǎn)角度的精密光學設備,分光儀能夠測定多種物理量,包括光波的波長、棱鏡的角度、材料的折射率、色散率以及光柵常數(shù)等。這些物理量的測定均通過角度測量來實現(xiàn),因此分光儀在光學實驗領(lǐng)域具有廣泛的應用價值。
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更新日期
2025-04-30
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YEL-3084880通用數(shù)據(jù)接口
880通用接口是一款集信號發(fā)生、恒壓輸出、模擬/數(shù)字信號采集于一體的多功能實驗設備,專為電子工程、工業(yè)檢測及教學研發(fā)設計。內(nèi)置1路16W信號發(fā)生器(正弦波/方波/三角波)、1路可編程恒壓源(0-15V)、4路模擬信號采集接口(±20V輸入,1MHz高速采樣)及4路數(shù)字接口(兼容YSC-42系列傳感器),支持手動與軟件雙模式操作,滿足復雜信號生成、精密電壓調(diào)節(jié)及多通道數(shù)據(jù)采集需求。
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更新日期
2025-04-25
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61
YGP-6249電子荷質(zhì)比實驗裝置
電子荷質(zhì)比e/m是一個常用的物理常數(shù),它的定義是電子的電荷量與其質(zhì)量的比值,經(jīng)現(xiàn)代科學技術(shù)的測定電子荷質(zhì)比的標準值是:1.759×10^11C/kg。當然測量電子荷質(zhì)比的方法在物理實驗中有許多種,本實驗儀是以當年英國物理學家湯姆遜的思路,利用電子束在磁場中運動軌跡發(fā)生偏轉(zhuǎn)的方法來測量。電子荷質(zhì)比實驗裝置的中心器件是三維立體的威爾尼氏管,通過它可以生動形象地顯示出電子束的運行軌跡,當將威氏管放于亥姆
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更新日期
2025-04-16
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XTR-6314邁克爾遜干涉實驗
1881年,為深入研究“以太”現(xiàn)象,美國物理學家阿爾伯特·邁克爾遜與愛德華·莫雷攜手合作,成功研制出基于分振幅法產(chǎn)生雙光束干涉的邁克爾遜干涉儀。該儀器在光譜精細結(jié)構(gòu)的研究以及利用光波進行標準米尺的標定等實驗中發(fā)揮了至關(guān)重要的作用。本實驗裝置實現(xiàn)了邁克爾遜干涉儀的設計理念和光路原理,涵蓋了相干性、分振幅干涉、等傾干涉、等厚干涉、定域干涉、非定域干涉、點光源、擴展光源、白光干涉、干涉可見度、轉(zhuǎn)換法、累
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更新日期
2025-04-16
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更新日期
2025-04-15
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